Confocal MicroscopeSensofar S wide
개요
S wide 대면적 3D프로파일러
S wide는 대면적(최대 300 × 300 mm) 영역을 빠르게 3D로 측정하기 위해 설계된 차세대 3D 메트롤로지 시스템으로, 프린지 프로젝션(그레이코드/슬릿 + 페이즈시프트) 기반의 고속 면(Area) 측정을 제공합니다.
전 측정 영역에서 서브미크론 단위의 높이 반복정도를 확보했으며, 바이-텔레센트릭 렌즈를 적용해 왜곡을 최소화하여 대면적에서도 신뢰도 높은 계측이 가능합니다.
또한 ISO 25178 및 VDI 2634-2 기준에 따른 교정/추적성을 갖추고, 3D CAD 모델 대비 형상 편차 및 공차를 정량적으로 평가할 수 있어 생산 품질관리와 형상 검증에 적합합니다. 소프트웨어는 SensoSCAN/SensoPRO 기반으로 직관적인 워크플로우와 레시피 자동화(시료 식별/기준점 인식 등)를 지원해 현장 적용성을 높였습니다.
특징






스펙
카탈로그






