COXEM EM-30N은 나노·마이크로 구조 관찰을 위한 탁상형(테이블탑) 주사전자현미경(SEM)으로, 고해상도 이미지와 넓은 관찰 범위(파노라마 기능)를 통해 연구·교육·품질관리 등 다양한 현장에서 활용하도록 설계된 모델입니다.

 기본적으로 최대 150,000× 배율, 5 nm급 해상도, 1–30 kV 가속전압 범위를 제공하며, SE(2차전자)와 BSE(반사전자) 신호를 단일 화면에서 동시/혼합 표시(dual display·signal mixing)하여 형상과 조성(명암 대비) 정보를 직관적으로 비교할 수 있습니다.

또한 Low Vacuum(LV) 모드를 통해 비도전성/절연 시료도 전처리 부담을 줄여 관찰할 수 있고, 파티클 분석, 라인 프로파일 측정, 자동 밝기/대비 최적화, 듀플렉스 내비게이션(저배율~고배율 연동 탐색) 등 분석·운용 편의 기능을 갖춥니다. 옵션으로 STEM(투과전자 검출기)와 쿨스테이지(Coolstage)를 구성해 박막/미세구조 분석이나 수분을 포함한 민감 시료 관찰 범위도 확장할 수 있습니다